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JJG 272-2007 空盒气压表和空盒气压计检定规程

时间:2024-05-01 11:44:30 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8573
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基本信息
标准名称:空盒气压表和空盒气压计检定规程
英文名称:Verification Regulation of Aneroid Barometer & Aneroid Barograph
中标分类: 综合 >> 计量 >> 力学计量
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 力、重力和压力的测量
替代情况:替代JJG 272-1991
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2007-06-14
实施日期:2007-12-14
首发日期:
作废日期:
主管部门:全国压力计量技术委员会
归口单位:全国压力计量技术委员会
起草单位:浙江省白气象仪器检定所等
起草人:盛幼生、罗昶等
出版社:中国质检出版社
出版日期:2007-12-14
页数:20页
书号:155026·J-2267
适用范围

本规程适用于空盒气压表和空盒气压计的首次检定、后续检定和使用中检验。

前言

没有内容

目录

1 范围 (1) 2 概述 (1) 3 计量性能要求 (1) 4 通用技术要求 (2) 4.1 外观要求 (2) 4.2 其他要求 (2) 5 计量器具控制 (3) 5.1 检定条件 (3) 5.2 检定项目 (3) 5.3 检定方法 (3) 5.4 检定结果的处理 (6) 5.5 检定周期 (6) 附录A 气压表、气压计温度系数检定记录表格式 (7) 附录B DYJ1型空盒气压计常压定域检定方法 (8) 附录C 气压表示值检定记录表格式 (10) 附录D 气压计示值检定记录表格式 (11) 附录E 气压表补充修正值检定记录表格式 (12) 附录F 检定证书内页格式 (13) 附录G 检定结果通知书内页格式 (14)

引用标准

没有内容

所属分类: 综合 计量 力学计量 计量学和测量 物理现象 力 重力和压力的测量
【英文标准名称】:StandardPracticeforDetectionofOxidationInducedDefectsinPolishedSiliconWafers
【原文标准名称】:抛光硅片氧化引起缺陷的检测的标准实施规程
【标准号】:ASTMF1727-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:缺陷;半导体;薄片;硅;垫圈;划痕;试验;蚀刻;滑动;污染
【英文主题词】:defects;dislocation;epitaxy;hillock;imperfections;oxidation;preferentialetch;shallowpit;silicon;slip;stackingfault;swirl
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thispracticecoversthedetectionofcrystallinedefectsinthesurfaceregionofsiliconwafers.Thedefectsareinducedorenhancedbyoxidationcyclesencounteredinnormaldev
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:研究性反应堆建筑物采暖 通风与空气净化系统设计规范
中标分类: 建材 >> 建筑构配件与设备 >> 建筑暖通、空调器材设备
ICS分类: 建筑材料和建筑物 >> 建筑物中的设施
发布日期:
实施日期:1991-01-01
首发日期:
作废日期:2010-01-20
出版日期:
页数:9页
适用范围

没有内容

前言

没有内容

目录

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引用标准

没有内容

所属分类: 建材 建筑构配件与设备 建筑暖通 空调器材设备 建筑材料和建筑物 建筑物中的设施