ASTM D 6253-1998 货盘标记的标准操作规程

时间:2024-05-15 02:26:58 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8920
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【英文标准名称】:StandardPracticeforMarkingofPallets
【原文标准名称】:货盘标记的标准操作规程
【标准号】:ASTMD6253-1998
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:作标记;货盘;识别材料处理货盘架
【英文主题词】:marking;repair;maintenance;pallets
【摘要】:
【中国标准分类号】:A83
【国际标准分类号】:55_180_99
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Testmethodsfordieselenginesofrailwayrollingstock
【原文标准名称】:铁路车辆用柴油发动机试验方法
【标准号】:JISE5303-1989
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1989-05-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonRailwaysandRollingStock
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:铁路车辆零部件;试验;柴油发动机
【英文主题词】:railwayvehiclecomponents;;testing
【摘要】:この規格は,鉄道車両の駆動に一般に用いるディーゼル機関(以下,機関という。)の試験方法について規定する。備考この規格の中で{}を付けて示してある単位及び数値は,従来単位によるものであって,参考として併記したものである。
【中国标准分类号】:S42
【国际标准分类号】:27_020;45_060_10
【页数】:14P;A4
【正文语种】:日语


【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis-Chemicalmethodsforthecollectionofelementsfromthesurfaceofsilicon-waferworkingreferencematerialsandtheirdeterminationbytotal-reflectionX-rayfluorescence(TXRF)spectroscopy
【原文标准名称】:表面化学分析.从硅片工作基准材料表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱法的测定
【标准号】:ISO17331-2004
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2004-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC201
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线;表面;定义;含量测定;特性;全反射;X射线荧光光谱法;硅片;光谱学;硅;精整;X射线分析;化学分析和试验;薄片;印制电路板
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Definitions;Determinationofcontent;Finishes;Printed-circuitboards;Properties;Silicon;Siliconslices;Spectroscopy;Surfaces;Totalreflection;Wafers;X-ray;X-rayanalysis;X-rayfluorescencespectrometry
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifieschemicalmethodsforthecollectionofironand/ornickelfromthesurfaceofsilicon-waferworkingreferencematerialsbythevapour-phasedecompositionmethodorthedirectaciddropletdecompositionmethod.ThisInternationalStandardappliestoironand/ornickelatomicsurfacedensitiesfrom6×109atoms/cm2to5×1011atoms/cm2.
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语